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初入機器視覺的工程師在幫光學系統選擇鏡頭時，通常只會注意到鏡頭的倍率，因為他們會有一種既定印象：當鏡頭倍率夠高，就可以看到很細小的東西。但結果通常會是什麼都看不到，這是因為這種印象忽略了鏡頭數值孔徑（Numerical Aperture，英文縮寫為NA )的重要。

解像力的公式如下：  

Res~λ/NA

它定義了能分辨兩個很近物體的理論極限值，光源波長越短、NA越大，解像力就越好。因此，當我們要觀測一個一個非常小的物體時，除了選擇放大倍率夠大的鏡頭之外，還需要注意這顆鏡頭的NA值是否夠大。

NA差異有多大？比比看就知道

以下我們挑幾顆同樣倍率，但NA值不同的鏡頭看看成像結果。下圖是拍攝較大的物體時，其實已經可以看出差異，但還不算非常明顯：

但是當拍攝較細微的待測物時，一點小小的差別就可能失之千里。從下圖可以看到，隨著NA值變低，除了線對變得無法分辨之外，在160線對左邊紅色箭頭旁的一顆小particle也越來越不清晰，到最右圖時已經甚至消失。

也就是說，如果選擇了一顆高倍率但NA不夠的鏡頭做AOI檢測，無可避免會漏檢一些細微的瑕疵，或者檢測表現就是不夠好。

高NA的鏡頭代表大光圈設計，也代表設計鏡頭時有很多艱難的問題需要克服。這也是為什麼高品質的鏡頭供應商就是只有那幾間，而同樣倍率的鏡頭不同廠牌可以價差到十倍以上；這代表的是鏡頭廠商技術力的差異。在這一波半導體浪潮，如果您想要研發高解析的檢測設備，這些硬體的投資是必要的。

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